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      高光面產品瑕疵檢測

      【概要描述】在工業中使用高光面材質加工一些平整度較高,且表面要求較高的工件,如手機logo,軍用設備中的導光板等產品,如下圖為維視智造為蘋果LOGO瑕疵檢測。 此類型的工樣品本身是屬于鏡面反光,工件本身平整度高,且易粘黏油污、手印等 反光問題:由于材質表面光潔度很高,已經形成一個高光鏡面,光源即使在很弱的狀態下,表面的反光也會有非常強的對比度,這種對比度會把表面本身的雜質、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋,使得視覺拍照無法檢測出零件表面缺陷。 倒影問題:由于材質表面已經形成一個鏡面,一般的光學鏡頭和光源的燈珠等都會在材質表面形成倒影,這個倒影會成像在最后的檢測畫面上,會嚴重影響材質表面的成像效果,造成檢測無法進行。 傳統光學系統成像-燈珠倒影 (無法進行檢測) 解決方案: 反光問題:BT系列遠心同軸照明成像系統采用平行光 反射照明,平行光成像的光學原理,可以把鏡面反光問題完美解決,即使表面有微小的劃痕、擦傷、指紋、油污等缺陷特征也會以很高的灰度對比度呈現出來,大大降低了后期圖像算法的難度 倒影問題:BT系列同軸照明成像系統(BT-2348+BT-CP64/X平行同軸光),光路平行度高,光斑均勻且全覆蓋檢測樣品本身,不會產生系統硬件在鏡面本身上的倒影

      【概要描述】

      在工業中使用高光面材質加工一些平整度較高,且表面要求較高的工件,如手機logo,軍用設備中的導光板等產品,如下圖為維視智造為蘋果LOGO瑕疵檢測。

      此類型的工樣品本身是屬于鏡面反光,工件本身平整度高,且易粘黏油污、手印等

      反光問題:由于材質表面光潔度很高,已經形成一個高光鏡面,光源即使在很弱的狀態下,表面的反光也會有非常強的對比度,這種對比度會把表面本身的雜質、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋,使得視覺拍照無法檢測出零件表面缺陷。

      倒影問題:由于材質表面已經形成一個鏡面,一般的光學鏡頭和光源的燈珠等都會在材質表面形成倒影,這個倒影會成像在最后的檢測畫面上,會嚴重影響材質表面的成像效果,造成檢測無法進行。

      傳統光學系統成像-燈珠倒影 (無法進行檢測)

      解決方案:

      反光問題:BT系列遠心同軸照明成像系統采用平行光

      反射照明,平行光成像的光學原理,可以把鏡面反光問題完美解決,即使表面有微小的劃痕、擦傷、指紋、油污等缺陷特征也會以很高的灰度對比度呈現出來,大大降低了后期圖像算法的難度

      倒影問題:BT系列同軸照明成像系統(BT-2348+BT-CP64/X平行同軸光),光路平行度高,光斑均勻且全覆蓋檢測樣品本身,不會產生系統硬件在鏡面本身上的倒影

      詳情

      在工業中使用高光面材質加工一些平整度較高,且表面要求較高的工件,如手機logo,軍用設備中的導光板等產品,如下圖為維視智造為蘋果LOGO瑕疵檢測。

      此類型的工樣品本身是屬于鏡面反光,工件本身平整度高,且易粘黏油污、手印等

      反光問題:由于材質表面光潔度很高,已經形成一個高光鏡面,光源即使在很弱的狀態下,表面的反光也會有非常強的對比度,這種對比度會把表面本身的雜質、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋,使得視覺拍照無法檢測出零件表面缺陷。

      倒影問題:由于材質表面已經形成一個鏡面,一般的光學鏡頭和光源的燈珠等都會在材質表面形成倒影,這個倒影會成像在最后的檢測畫面上,會嚴重影響材質表面的成像效果,造成檢測無法進行。

      傳統光學系統成像-燈珠倒影 (無法進行檢測)

      解決方案:

      反光問題:BT系列遠心同軸照明成像系統采用平行光

      反射照明,平行光成像的光學原理,可以把鏡面反光問題完美解決,即使表面有微小的劃痕、擦傷、指紋、油污等缺陷特征也會以很高的灰度對比度呈現出來,大大降低了后期圖像算法的難度

      倒影問題:BT系列同軸照明成像系統(BT-2348+BT-CP64/X平行同軸光),光路平行度高,光斑均勻且全覆蓋檢測樣品本身,不會產生系統硬件在鏡面本身上的倒影

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